便攜式相控陣試塊是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊：

A型便攜式相控陣試塊，B型便攜式相控陣試塊是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊，符合ASTM E 2491-08標(biāo)準(zhǔn)

一、相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測(cè)試

1、一般要求：該項(xiàng)測(cè)試要求儀器軟件能夠?qū)ο嗫仃囂筋^的每個(gè)晶片進(jìn)行逐一激發(fā)。

2、測(cè)試方法：

2.1將相控陣探頭均勻穩(wěn)定地耦合在角度增益修正試塊(或等效試塊)表面，單獨(dú)激發(fā)一個(gè)晶片，得到高反射回波。

2.2調(diào)節(jié)增益值使晶片回波達(dá)到80%滿(mǎn)屏高度，記錄此時(shí)的增益值。

2.3單獨(dú)激發(fā)下一個(gè)晶片，并重復(fù)B22，直至last個(gè)晶片(沿著陣列中所有陣元一次一個(gè)陣元步進(jìn))。

3、判斷：如出現(xiàn)以下情況，認(rèn)定為晶片為壞晶片:

a) 未見(jiàn)底面回波信號(hào)的晶片;

b) 有底面回波信號(hào)但信噪比小于12dB的晶片:

c）同一陣列中靈敏度明顯偏低，比其他晶片的平均靈敏度低9dB以上的晶片。

B.4對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行復(fù)核

二、背景技術(shù)：護(hù)環(huán)是發(fā)電機(jī)的重要組成部分，是發(fā)電機(jī)中承受應(yīng)力最高的部件之一，是用以固定和保護(hù)纏繞在發(fā)電機(jī)轉(zhuǎn)子兩端線圈的大型鋼環(huán)。護(hù)環(huán)材料多采用奧氏體無(wú)磁鋼整體鍛造而成。處于運(yùn)行工況中的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)，不僅承受旋轉(zhuǎn)應(yīng)力、離心力、配合應(yīng)力等應(yīng)力作用，還伴隨著應(yīng)力腐蝕及電燒傷等因素，因此護(hù)環(huán)的嵌裝面、緊力面r角部位極易誘發(fā)裂紋類(lèi)缺陷，如不能及時(shí)檢測(cè)出缺陷的存在，將危及設(shè)備的安全運(yùn)行。相控陣超聲縱波檢測(cè)與常規(guī)a型脈沖超聲波檢測(cè)相比，具有多種顯示模式，聲束角度范圍大且能聚焦到重點(diǎn)檢測(cè)部位，檢測(cè)圖譜可存儲(chǔ)等優(yōu)點(diǎn)，在復(fù)雜缺陷的判斷等方面具有顯著技術(shù)優(yōu)勢(shì)。但現(xiàn)在沒(méi)有專(zhuān)門(mén)的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊。因此開(kāi)發(fā)一種發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，可有助于大幅提高發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)裂紋相控陣超聲檢測(cè)的準(zhǔn)確性和可靠性。

三、技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點(diǎn)，提供了一種發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，該試塊能夠有助于提高發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)裂紋相控陣超聲檢測(cè)的準(zhǔn)確性及可靠性。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊包括奧氏體無(wú)磁鋼塊。

四、具體應(yīng)用過(guò)程為：

1)將相控陣探頭9與相控陣超聲檢測(cè)儀8相連接；

2)將相控陣探頭9放置于本發(fā)明上，并使得相控陣探頭9依次對(duì)準(zhǔn)第一橫通孔2、第二橫通孔3、第三橫通孔4、第四橫通孔5及第五橫通孔6，然后微調(diào)相控陣探頭9的位置，使橫通孔的超聲反射波幅最大，同時(shí)調(diào)節(jié)增益，使得該超聲反射波幅為滿(mǎn)屏刻度的80％，使不同深度、不同角度下φ1mm橫通孔反射回波波幅均達(dá)到滿(mǎn)屏的80％，以繪制時(shí)間增益修正曲線；

3)分別確定超聲縱波檢測(cè)和超聲橫波檢測(cè)時(shí)的檢測(cè)靈敏度及判廢線；

4)通過(guò)相控陣探頭9對(duì)待檢測(cè)發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)7進(jìn)行檢測(cè)，并將檢測(cè)的結(jié)果與時(shí)間增益修正曲線進(jìn)行比較，并根據(jù)比較結(jié)果依據(jù)掃查靈敏度及判廢線判斷缺陷的程度，即根據(jù)檢測(cè)結(jié)果獲取當(dāng)前缺陷對(duì)應(yīng)的反射波幅，并根據(jù)所述反射波幅判斷缺陷的程度。

五、技術(shù)特征：

1.一種發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，包括奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)，奧氏體無(wú)磁鋼(1)上設(shè)置有第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)，其中，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)自上到下依次分布，且第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在垂直方向上等間距分布，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在水平向上等間距且依次分布。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)與奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)端部之間的距離不同。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)的長(zhǎng)度、寬度及高度分別為300mm、40mm及120mm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的孔徑均為1mm。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的長(zhǎng)度均為40mm。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在垂直方向的距離分別為60mm、70mm、80mm、90mm及100mm。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在水平方向的距離分別為50mm、100mm、150mm、200mm及250mm。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)電機(jī)護(hù)環(huán)相控陣超聲檢測(cè)用試塊，其特征在于，奧氏體無(wú)磁鋼塊(1)的材質(zhì)為mn18cr18n系或mn18cr5系。

便攜式相控陣試塊是國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)試塊